Themen und Index

Einstiegsbeispiele
Versuchsplanung & DoE
Weibull & Zuverlässigkeit
Einführung in Visual-XSel
Einführung in Methoden

Top Themen aus Visual-XSel & Programmbeschreibungen

Ursachen-Wirkungsdiagramm
Pareto Auswertung Parameter
.

Versuchspläne
D-Optimal
Definitive Sreening Designs

Multiple Regression
Partial-Least-Square
Häufigkeitsgruppen

Success Run
WeiBayes
Belastungs-Testmatrix

Grundlagen
Leitfaden Feldauswertung
Leitfaden Datenaufbereitung

Fehlerbaumanalyse FTA
Systemzuverlässigkeit
.

MSA für stetige Größen
MSA für diskrete Größen
VDA Band 5

Maschinenfähigkeit Cmk
Prozessfähigkeit Cpk
Nicht normalverteilte Daten

Urwertkarte
Shewart Regelkarte
Diskrete Regelkarten

Themen von A bis Z

ALLGEMEINE STATISTIK METHODEN & DOE

A____________________

Analytischer Hierarchieprozess
ANOM / ANOVA
Auswertung kritischer Daten
Automatische Regression

B____________________

Box-Cox
Boxplot

C____________________

CCC, CCD, CCF
Chi-Tests
Clusteranalyse

D____________________

Definitive Screening Designs
Devianz-Test
D-Optimal
Diskrete Regression

E____________________

Exakter Test nach Fisher

F____________________

Fehlerfortplanzungsgesetz
F-Test
Fischgräten-Diagramm

H____________________

Häufigkeitsgruppen
Hauptkomponentenanalyse
Hypothesentests

I____________________

Intensitäts-Beziehungsmatrix
Ishikawa-Diagramm

K____________________

Kolmogoroff-Smirnow-Test
Komponententausch
Kreuztabelle

L____________________

Lack of Fit
Levenberg-Marquardt
Logit-Modell

M____________________

Matrix Plot
Mischungspläne
Multiple Regression
Multi-Variations-Karte

N____________________

Neuronale-Netze
Normalverteilung
Normieren

O____________________

Optimierung
Orthogonalität

P____________________

Paarweiser Vergleich
Partial-Least-Square
Percentil-Methode
Plackett-Burman-Versuchspläne
Poisson-Regression
Poisson-Verteilung
Power-Funktion
p-Value

Q____________________

Q²-Maß
QFD

R____________________

Regression

S____________________

Signal-Rausch-Verhältnis
SixSigma
Standardisieren
Stichprobenumfang
Systemanalyse

T____________________

Taguchi
Teilfaktorieller Versuchsplan
Toleranzrechnung
Toleranzsimulation
t-Test

U____________________

u-Test
Ursache-Wirkungs-Diagramm

V____________________

Varianzanalyse
Vergleich Alt gegen Neu
Versuchsplanung
Verteilungstests
Vollfaktorieller Versuchsplan

W____________________

Wald-Test
Wiederholbarkeit
Wilcoxon-Test
Wirkungsdiagramm
Wunschfunktion

Z____________________

Zentralpunkte
Zentral zusammengesetzt

ZUVERLÄSSIGKEIT & WEIBULL-VERTEILUNG

A____________________

Anwärter-Prognose
Arrhenius-Modell
Ausfallrate
Ausfallfreie Zeit to

B____________________

B10-Kennwert
Belastungs-Testmatrix
Betriebsfestigkeit
Bootstrap-Analyse

C____________________

Coffin-Manson-Modell

D____________________

Doppeltexponential-Verteilung

E____________________

Erwartungswert
Exponentialansatz

F____________________

Fehlerbaumanalyse
Feldausfälle

H____________________

HALT & HASS & HASA
Hazard rate

I____________________

Interpretation b
Intervallzensierte Daten

J____________________

Johnson-Verfahren

K____________________

Kurvenfunktion (3-parametrig)
Kurvenverläufe

L____________________

Laufstreckenverteilung
Lebensdauerversuche
Life-Cycle-Costs
Linkzensierte Daten
Lognormalverteilung

M____________________

Mindestzuverlässigkeit
Mischverteilung
Mittelwert
Monte-Carlo-Methode
MTTF/MTBF

N____________________

Nichtlineare Weibull-Verläufe
Nichtschadhafte Teile
Normalverteilung

P____________________

Parameterbestimmung
Prognose unvollständige Daten

R____________________

Raffungsfaktoren und -Tests
Reliability-Blockdiagramme

S____________________

Schichtlinien
Standardabweichung
Success Run Testing
Sudden-Death-Testing

T____________________

t10, t50, B10
Teileauswertung
Temperaturabhängigkeit
Test auf Weibull-Verteilung
Tests ohne Ausfälle

V____________________

Verfügbarkeit
Vergleich von Verteilungen
Verschleißhochrechnung
Vertrauensbereich

W____________________

WeiBayes-Methode
Weibull-Verteilung
Wiederholungsausfälle
Wöhler

Z____________________

Zensierte Daten
Zuverlässigkeitswachstum
Zuv-Indikatoren

MESS-SYSTEM-ANALYSEN & PROZESSFÄHIGKEIT

ANOM / ANOVA

AQDEF-Format

Fähigkeitskennzahlen

Fehlerfortplanzungsgesetz

Maschinenfähigkeit

Mess-System-Analyse

Multi-Variations-Karte

Multivariate Regelkarten

Precontrol

Prozessdaten Toleranzsimulation

Prozessfähigkeit

Regelkarten

Urwertkarte

ALLGEMEIN

Einstiegsbeispiele

Weibull Programmbeschreibung

DoE Programmbeschreibung

SixSigma

Systemanalyse

Fehlerbaumanalyse

Makros & Programmierung

Leitfaden Tabellenerstellung

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